C-ACTI : Communications avec actes dans un congrès international de rang A

"Analysis of system level TID test results of a System in Package Point of Load converter" - T. Rajkowski, F. Saigné, K. Niskanen, J. Boch, T. Maraine, P. Kohler, P. Dubus A. Touboul and P. X. Wang

IEEE NSREC Santa Fé, December 2020, USA

"Comparison of TID-induced Degradation of Programmable Logic Timings in Bulk 28nm and 16nm FinFET System-on-Chips under Local X-ray Irradiation" - I. C. Lopes, V. Pouget, K. Roed, F. Wrobel, A. Touboul, F. Saigné, J. Boch, T. Maraine

IEEE NSREC Santa Fé, December 2020, USA

 

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 "Analysis of SET propagation in a system in package point of load converter". - T. Rajkowski, F. Saigné, V. Pouget, F. Wrobel, A. Touboul, J. Boch, P. Kohler, P. Dubus and P. X. Wang.

Accepté pour publication dans IEEE Transaction on Nuclear Science 2020

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T. Rajkowski, F. Saigné, V. Pouget, F. Wrobel, A. Touboul, J. Boch, P. Kohler, P. Dubus and P. X. Wang. "Analysis of SET propagation in a system in package point of load converter". IEEE RADECS 2019, sept 2019, Montpellier, France

Jérémy Raoult, Sylvie Jarrix, Laurent Chusseau, T. Maraine, Jérôme Boch. "Highlight of Total Ionizing Dose Effects on a RF Front-end by means of Microwave Nonlinear Characterization". RADECS, Sep 2019, Montpellier, France. ⟨hal-02170742⟩

Jason Dardié, Jérôme Boch, Alain Michez, Cathy Guasch, Samir Bouisri, et al.. "Effect of Low Temperatures Irradiation on NPN Bipolar Junction Transistors". IEEE RADECS 2019, Sep 2019, Montpellier, France. ⟨hal-02307353⟩

J. El Beyrouthy, A. Vauthelin, M. Seif, B. Sagnes, F. Pascal, A. Hoffmann, M. Valenza, J. Boch, T. Maraine, S. Haendler, A. Gauthier, P. Chevalier, D. Gloria "Effects of Total Ionizing Dose on I-V and Low Frequency Noise characteristics in advanced Si/SiGe:C Heterojunction Bipolar Transistors". RADECS, Sep 2019, Montpellier, France.

Jason Dardié, Jérôme Boch, Alain Michez, Antoine Touboul, Philippe Girones,  Jean-Roch Vaillé, Frédéric Saigné, Francoise Bezerra, Jean-Luc Favre, "Dose Response of MOS Transistors Irradiated at Low Temperatures". IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC2019), Jul 2019, San Antonio, United States. ⟨hal-02307335⟩

 

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P. Kohler, Vincent Pouget, Frédéric Saigné, J. Boch, T. Maraine, Pierre-Xiao Wang, M.-C. Vassal, "Total Ionizing Dose effects in DDR3 SDRAMs under Co-60 and X-ray irradiation." European Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS), Sep 2018, Goteborg, Sweden. ⟨hal-02088721⟩

 

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